Métrologie appliquée aux sciences et technologies 1
Incertitudes et GPS

Coll. Capteurs et instrumentation

Auteur :

Directeur de Collection : PLACKO Dominique

Langue : Français
Couverture de l'ouvrage Métrologie appliquée aux sciences et technologies 1

Thèmes de Métrologie appliquée aux sciences et technologies 1

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Date de parution :
Ouvrage 356 p. · 15.6x23.4 cm · Broché
ISBN : 9782746222946 EAN : 9782746222946
Hermes Science

· PDF : 88,00 € ·
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Métrologie appliquée aux sciences et technologies, en deux volumes, se démarque des ouvrages traditionnels par son aspect pédagogique. Illustré par des travaux dirigés et des modèles de laboratoires, il est accessible à des utilisateurs non spécialistes dans les domaines de la conception et de la fabrication. Les chapitres peuvent être consultés indépendamment les uns des autres.
Métrologie appliquée aux sciences et technologies fait une grande place aux techniques de tolérances géométriques et dimensionnelles ainsi qu'aux essais mécaniques et au contrôle de qualité. Il propose également des références et exemples résolus aidant ainsi les professionnels et les enseignants à adapter les modèles à leurs cas spécifiques.
Métrologie appliquée aux sciences et technologies rend compte des développements récents sur les normes (ISO et GPS) et met l'accent sur la formation qui va de paire avec la progression des travaux pratiques et des ateliers traitant de la mesure et du dimensionnement.
CHAPITRE 1. Éléments d'analyse des erreurs et de leurs incertitudes en métrologie dimensionnelle appliquée aux sciences et technologies. CHAPITRE 2. Éléments de tolérances dimensionnelles et géométriques selon les normes ISO, ACNOR (Canada) et ANSI (États-Unis). CHAPITRE 3. Mesures et contrôles à l'aide des étalons linéaires et angulaires. CHAPITRE 4. Le contrôle des surfaces. Index.
Ammar Grous est docteur en sciences de l’ingénieur de l’université de Haute-Alsace et titulaire d’un DEA en génie des matériaux. Il enseigne les techniques de génie mécanique au Québec