Les isolants
Physique de la localisation des porteurs de charge - Applications aux phénomènes d'endommagement

Auteurs :

Langue : Français
Date de parution :
Ouvrage 340 p. · 15.5x24 cm · Broché
ISBN : 9782743012298 EAN : 9782743012298
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· PDF : 99,00 € ·
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Les problèmes technologiques associés à la fabrication et à l’utilisation des matériaux isolants demeurent nombreux et sont souvent récurrents dans beaucoup de secteurs industriels. Cette situation reflète les insuffisances des théories de l’endommagement des isolants. Cet ouvrage propose un nouveau modèle d’endommagement des isolants et des mesures permettant d’en prévoir les comportements. Les phénomènes de claquage, de fracture et d’usure sont ensuite expliqués à travers ce modèle. Des applications à des problèmes technologiques variés sont présentées et plusieurs stratégies d’amélioration des matériaux y sont proposées. Les auteurs précisent les caractérisations à effectuer dans un microscope électronique à balayage pour évaluer la qualité des isolants. L’exposé de cette méthode comporte plusieurs développements originaux essentiels à la maîtrise technologique de ce type de matériaux.

Les isolants constitue un mémento original destiné à servir de guide pratique aux ingénieurs et aux chefs de projet concernés par la maîtrise technologique des isolants. Il contribuera aussi à la formation d’étudiants et à la sensibilisation de chercheurs à des nouvelles approches fondamentales des isolants.

Les quatre auteurs sont des spécialistes reconnus des isolants comme l’attestent leurs publications accessibles sur Internet. Ils ont uni leurs compétences dans les domaines fondamentaux et appliqués pour que la recherche conduite sur des matériaux modèles aboutisse à des considérations pratiques validées par l’expérience et appliquées à des matériaux industriels complexes.
Introduction. Perturbation du champ cristallin et endommagement. Introduction. Principes généraux. Piégeage et dépiégeage d’électrons. Conclusion. Références bibliographiques. Caractérisation des isolants, microscopie à balayage. Introduction. Synthèse des données nécessaires à la caractérisation des isolants. Caractérisation des effets d’accumulation de charges. Conclusion. Annexes. Isolants et technologies. Mécanique, génie électrique, optique. Introduction. Rappel des protocoles expérimentaux. Effet des défauts chargés sur les propriétés mécaniques. Effet des charges piégées sur le claquage électrique. Applications. Conclusion. Annexes. Conclusion et perspectives. Références bibliographiques. Index.
Christiane Bonnelle est professeur émérite à l’université Pierre et Marie Curie où elle a notamment dirigé le laboratoire de chimie physique matière et rayonnement. Guy Blaise est docteur ès sciences et professeur émérite de l’université Paris XI où il a effectué sa carrière d’enseignant et de chercheur. Claude Le Gressus est docteur ès sciences appliquées et ingénieur à l’INSA de Lyon. Il est également consultant dans le domaine des isolants. Daniel Tréheux est docteur ès sciences physiques et diplômé de métallurgie spéciale (INSTN). Il est également ingénieur à l’École Centrale de Lyon (ECL).