Test de circuits et de systèmes intégrés
Traité EGEM, série Electronique et micro-électronique

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Langue : Français

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Date de parution :
Ouvrage 324 p. · 16x24 cm · Relié
ISBN : 9782746208643 EAN : 9782746208643
Hermes Science
Ce livre est l'aboutissement d'un travail collectif des chercheurs et enseignants-chercheurs du département de microélectronique du Laboratoire d'Informatique et de Microélectronique de Montpellier. Spécialisés depuis plus de vingt ans dans le test des circuits et systèmes intégrés, les auteurs abordent tous les aspects de ce large domaine en s'intéressant tour à tour à la modélisation des défauts, aux techniques algorithmiques, aux aspects architecturaux tant au niveau du domaine des circuits numériques qu'analogiques. Les aspects pratiques sont également très largement abordés avec des chapitres consacrés aux normes actuelles ou en cours d'élaboration ainsi qu'au test industriel.
Introduction. Test industriel des circuits et systèmes intégrés. Modélisation de fautes. Génération automatique de vecteurs de test. La simulation de fautes. Techniques de test alternatives. Test des mémoires. Conception en vue d'une meilleure testabilité (CVT). Test intégré. Test analogique. Les normes. Index