Modélisation, caractérisation et mesures de circuits intégrés passifs RF
Traité EGEM, série Electronique et micro-électronique

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Langue : Français

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Date de parution :
Ouvrage 248 p. · 15.4x23.6 cm · Relié
ISBN : 9782746214972 EAN : 9782746214972
Hermes Science

Résumé de Modélisation, caractérisation et mesures de circuits...

Cet ouvrage écrit par des spécialistes reconnus dans leur domaine, est destiné aux concepteurs de circuits intégrés passifs radiofréquence ou hyperfréquence. Il décrit les méthodes de modélisation des circuits passifs à partir des méthodes d'analyse numérique les plus couramment utilisées (Méthode des Moments, éléments finis, FDTD, TLM), en tenant compte en particulier des phénomènes de propagation. La modélisation des boîtiers et des interconnexions est incluse ainsi qu'une méthode originale de modélisation des circuits multi-échelles. La caractérisation et les méthodes de mesure font l'objet de deux chapitres très complets sur les mesures dans le domaine fréquentiel et temporel. Les erreurs de mesure sur analyseur de réseau vectoriel et leurs corrections sont particulièrement détaillées ainsi que tous les passages entre les différents paramètres S, Z, Y, h, T, ABCD. La réflectométrie dans le domaine temporel et son utilisation sont également détaillées dans l'ouvrage.

Sommaire de Modélisation, caractérisation et mesures de circuits...

Introduction. Méthodes d'analyse numérique pour les circuits passifs -P. Saguet. Procédures de calcul de composants passifs avec la méthode TLM : application aux filtres coplanaires et aux antennes -M. Ney, S. Le Maguer, G. Prigent. Circuits multi-échelles : utilisation des sources auxiliaires -H. Baudrand, S. Wane. Boîtiers pour circuits RF -J. Chilo. Caractérisation des dispositifs et circuits passifs intégrés radiofréquences -J.-L. Carbonero. Mesures dans le domaine temporel -F. Ndagijimana. Index.